Espectrómetro EDXRF de mesa con objetivos secundarios
Suministros de laboratorio Kasalab le ofrece Espectrómetro Genius IF entre su amplia gama de equipos para laboratorio para la venta en Colombia.
Un espectrómetro es un instrumento utilizado para medir la intensidad de la radiación electromagnética en función de la longitud de onda o la energía. La función principal de un espectrómetro es descomponer la radiación electromagnética en sus componentes espectrales, ya sea por longitud de onda o por energía, y medir la intensidad de cada componente. Esto permite estudiar las características de la radiación y la composición de la muestra analizada.
Campos de Aplicación
- Química y Bioquímica: Se utiliza para identificar y cuantificar sustancias químicas en muestras líquidas y sólidas.
- Física: En investigaciones relacionadas con la espectroscopia de materiales y la estructura atómica.
- Astronomía: Para analizar la luz emitida por estrellas, planetas y otros objetos celestes con el fin de estudiar su composición y propiedades físicas.
- Medicina: En aplicaciones como la espectroscopia de fluorescencia para el diagnóstico y la investigación biomédica.
Beneficios
- Análisis Preciso: Proporciona mediciones precisas de la intensidad de la radiación electromagnética en diferentes longitudes de onda o energías.
- Identificación de Compuestos: Permite identificar la presencia de compuestos específicos en una muestra analizada.
- Versatilidad: Se puede adaptar a una amplia gama de aplicaciones y muestras, desde líquidos hasta sólidos, y desde materiales orgánicos hasta inorgánicos.
- No Destructivo: En muchos casos, el análisis se puede realizar sin dañar la muestra, lo que es crucial en campos como la arqueología y la conservación del patrimonio.
Características
- Rango Espectral: Varía dependiendo del tipo de espectrómetro, pero puede cubrir desde el ultravioleta hasta el infrarrojo, e incluso rayos X y gamma en algunos casos.
- Resolución Espectral: La capacidad para distinguir entre diferentes longitudes de onda o energías de manera precisa.
- Sensibilidad: La capacidad para detectar incluso pequeñas señales de radiación.
- Modos de Operación: Puede operar en diferentes modos, como espectroscopia de absorción, emisión, fluorescencia, etc.
Espectrómetro EDXRF de mesa con objetivos secundarios
El espectrómetro EDXRF Genius IF (objetivos secundarios) de Xenemetrix ofrece una solución rentable en el mercado actual de análisis elemental.
El analizador proporciona una determinación cualitativa y cuantitativa no destructiva desde Carbono (6) hasta Fermio (100), proporcionando límites de detección desde subppm hasta concentraciones de alto porcentaje en peso.
Genius IF tiene potentes componentes que incluyen:
- Un sistema informático totalmente integrado
- Un detector de deriva Slicon de alta resolución
- Un potente tubo de rayos X con tamaños de punto variables, diseñado para acomodar muestras de varios tamaños
- Ocho objetivos secundarios y ocho filtros de tubo personalizables para una determinación rápida y precisa de elementos traza y menores
Genius IF también puede funcionar en el modo clásico de excitación directa.
Detector de deriva de silicio (SDD):
El detector de deriva de silicio permite altas tasas de conteo, resolución mejorada, hasta 125 eV y tiempo de respuesta rápido, para minimizar el tiempo de inactividad operativa.
SDD LE-Ultra: la ventana del detector ultradelgada proporciona un rendimiento superior para el análisis de elementos Z bajos.
Objetivos secundarios:
Genius IF tiene una geometría patentada única que combina ocho objetivos secundarios, con ocho filtros de tubo personalizables utilizados en modo de excitación directa, para permitir una excitación óptima de todos los elementos que se pueden detectar en EDXRF.
La técnica de objetivo secundario patentada WAG (Geometría de gran angular) proporciona los mejores resultados para el análisis de elementos mayores, menores y traza.
El tubo de rayos X excita las líneas K características de un objetivo secundario (un metal puro) que se utilizan para excitar la muestra "monocromáticamente".
Al utilizar objetivos secundarios, los límites de detección de ciertos elementos se pueden reducir aún más.
Estos límites de detección más bajos hacen que Genius IF sea adecuado para una gama más amplia de aplicaciones que anteriormente no habían sido accesibles a los instrumentos ED-XRF convencionales, y convierten a este instrumento en el analizador elemental más versátil disponible.
- Análisis elemental no destructivo C(6) – Fm(100) desde concentraciones Sub-ppm hasta concentraciones del 100%.
- La geometría patentada única combina ocho objetivos secundarios y hasta ocho filtros personalizables para una determinación rápida y precisa de trazas y elementos menores.
- El detector de deriva de silicio (SDD) permite aplicaciones de tasa de conteo extremadamente alta con excelente resolución de energía, hasta 125 eV, adecuado para elementos z altos y bajos y ventana de polímero delgada LE para mejorar el análisis de elementos ligeros.
- Bandeja de muestras con 8/16 posiciones.
- Potente paquete de software analítico.
