Espectrómetro EDXRF de mesa: rápido, preciso y fácil de usar
Suministros de laboratorio Kasalab le ofrece Espectrómetro X-Calibur entre su amplia gama de equipos para laboratorio para la venta en Colombia.
Un espectrómetro es un instrumento utilizado para medir la intensidad de la radiación electromagnética en función de la longitud de onda o la energía. La función principal de un espectrómetro es descomponer la radiación electromagnética en sus componentes espectrales, ya sea por longitud de onda o por energía, y medir la intensidad de cada componente. Esto permite estudiar las características de la radiación y la composición de la muestra analizada.
En resumen, un espectrómetro es una herramienta esencial en una amplia gama de campos científicos y técnicos, que proporciona información crucial sobre la composición y las propiedades de materiales y sustancias mediante el análisis de su espectro electromagnético.
El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (EDXRF) X-Calibur de Xenemetrix ofrece una solución rentable en el mercado actual para el análisis elemental.
El espectrómetro compacto cabe cómodamente en una mesa de laboratorio tradicional e incluye un sistema informático totalmente integrado.
X-Calibur de Xenemetrix utiliza un detector de alta resolución, una cámara integrada en software y un potente tubo de rayos X con tamaños de punto variables para acomodar muestras de varios tamaños.
La exclusiva geometría frontal-ánoda de los tubos de rayos X, combinada con un diseño óptico avanzado, permite un acoplamiento extremadamente estrecho con la muestra, lo que da como resultado una mayor sensibilidad.
El diseño y la construcción robustos hacen que el X-Calibur sea ideal para un laboratorio móvil y cumple con las especificaciones MIL 810E para pruebas de impacto. El analizador proporciona una determinación cualitativa y cuantitativa no destructiva de C(6)-Fm(100), lo que da como resultado un producto excepcional, capaz de ofrecer potentes resultados analíticos ahora y en el futuro.
El detector de deriva de silicio permite tasas de conteo más altas, resolución mejorada, hasta 125 eV y una respuesta más rápida para minimizar el tiempo de inactividad operativa.
SDD LE: la ventana del detector ultradelgada opcional proporciona un rendimiento superior para el análisis de elementos Z bajos (elementos de luz).
Robusta carcasa de sobremesa: para entornos duros/de campo.