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Ficha técnica
Espectrómetros EDXRF NEX DE Series para Análisis Elemental
NEX DE Series
Espectrómetros EDXRF NEX DE VS Series para Análisis Elemental
NEX DE VS Series

Descripción

Suministros de laboratorio Kasalab le ofrece Espectrómetros EDXRF NEX DE Series para Análisis Elemental entre su amplia gama de equipos de laboratorio para la venta en Colombia.

Los espectrómetros NEX DE y NEX DE VS son equipos analíticos avanzados basados en la técnica de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF), con excitación directa. Estos instrumentos están diseñados para brindar altos niveles de precisión, sensibilidad y velocidad en la caracterización elemental de muestras sólidas, líquidas o en polvo.

Están equipados con un tubo de rayos X de 60 kV y 12 W, junto a un detector de deriva de silicio (SDD) de alto rendimiento, lo que permite trabajar con tasas de conteo superiores a 500.000 cps, generando resultados analíticos altamente fiables en tiempos mínimos.

Potencia tu análisis con EDXRF de alto rendimiento:

Los modelos NEX DE y NEX DE VS ofrecen resultados de alto rendimiento cuando el tiempo de análisis o el rendimiento de muestras es crucial. Están diseñados para brindar velocidad y precisión, fundamentales en laboratorios analíticos de alto volumen o entornos dinámicos.

Cuentan con un tubo de rayos X de 60 kV y 12 W, filtros de tubo de una o varias capas, y un detector de deriva de silicio (SDD) de alto rendimiento que admite tasas de conteo superiores a 500.000 cps. Estas tasas permiten límites de detección bajos y excelente resolución espectral, y se logran mediciones de alto rendimiento con diferentes cambiadores automáticos de muestras. Estas características permiten obtener resultados analíticos de alta precisión en el menor tiempo posible.

Además, estos instrumentos vienen con el software QuantEZ, diseñado para simplificar el desarrollo de métodos y optimizar el tiempo de uso. Su control intuitivo, navegación simple por menús y la interfaz EZ Analysis permiten operaciones rutinarias eficientes y desarrollo de nuevos métodos con un asistente de flujo fácil de usar. Estos sistemas son ideales para exploración, investigación, inspección RoHS, educación, criminalística y monitoreo industrial o de producción.

Mediciones EDXRF de puntos pequeños:

Para necesidades de análisis en puntos pequeños, el modelo NEX DE VS incluye una cámara de alta resolución y colimadores automáticos, que permiten posicionar muestras con precisión para analizar tamaños de punto de 1 mm, 3 mm y 10 mm. Su gran cámara de muestras puede alojar objetos de hasta 30 cm de diámetro y 10 cm de altura, y la interfaz Point Analysis junto con la cámara retroiluminada facilitan el posicionamiento. El NEX DE VS es una excelente opción para medición de recubrimientos en piezas pequeñas, tamizado de muestras en iniciativas de desechos electrónicos, o investigación de materias desconocidas.

¿Para qué sirve los Espectrómetros EDXRF NEX DE Series para Análisis Elemental?

Los espectrómetros EDXRF NEX DE Series para Análisis Elemental se utilizan para realizar análisis elementales precisos en una amplia gama de materiales. Es ideal para determinar la composición química de metales, minerales, plásticos, recubrimientos, materiales desconocidos, contaminantes, entre otros. Gracias a su tecnología EDXRF, permite analizar elementos desde el sodio (Na) hasta el uranio (U) sin necesidad de preparación destructiva de la muestra, ofreciendo un enfoque no invasivo, rápido y confiable.

  1. Industria electrónica y RoHS: Para verificar el cumplimiento de regulaciones ambientales como RoHS, identificando elementos restringidos (Pb, Cd, Hg, Br, Cr6+).
  2. Minería y metalurgia: Para la caracterización elemental de minerales y aleaciones, control de calidad en producción y exploración geológica.
  3. Industria del reciclaje y gestión de residuos: Identificación de materiales peligrosos o valiosos, separación eficiente de materiales electrónicos.
  4. Farmacéutica y cosmética: Control de calidad de materias primas e identificación de contaminantes metálicos en productos terminados.
  5. Investigación forense y académica: Análisis no destructivo de evidencia, pinturas, residuos o materiales de procedencia desconocida.
  6. Industria de recubrimientos y galvanoplastia: Medición del espesor y composición de recubrimientos metálicos sobre distintos substratos.

Especificaciones Técnicas de los Espectrómetros EDXRF NEX DE Series para Análisis Elemental:

Característica Especificación
TécnicaFluorescencia de rayos X por dispersión de energía con excitación directa (EDXRF)
BeneficioSistemas EDXRF de alto rendimiento que ofrecen mayor sensibilidad, rapidez y flexibilidad
Análisis de puntos pequeñosCapacidades de análisis puntual con cámara de alta resolución, colimadores automáticos e interfaz amigable de Análisis Puntual (solo NEX DE VS)
TecnologíaEDXRF con detector de deriva de silicio (SDD) de alto rendimiento
AtributosTubo de rayos X de 60 kV y 12 W, SDD de alta eficiencia, análisis desde Na hasta U
SoftwareQuantEZ para control total del espectrómetro y análisis de datos
OpcionesVacío (modelo NEX DE), purga con helio, cambiadores automáticos de muestras, girador de muestras, PC externo con Windows, UPS, soporte RPF-SQX con FP de Rigaku, cumplimiento 21 CFR Parte 11, funciones adicionales
Dimensiones356 mm (Ancho) x 260 mm (Alto) x 351 mm (Profundidad)
PesoAproximadamente 27 kg (unidad principal)
Requisitos de energía1Ø, 100 – 240 V, 1.5 A (50/60 Hz)

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